Pengaruh Jumlah Lapisan Tipis Giant Magnetoresistance (GMR) Berstruktur Multilayer yang Ditumbuhkan dengan Metode DC Sputtering terhadap Rasio Magnetoresistance (MR).

Magnetoresistance adalah perubahan resistansi logam bila berada dalam medanmagnet luar. Nilai magnetoresistance yang sangat besar dinamakan dengan giantmagnetoresistance (GMR). GMR terdiri dari beberapa struktur diantaranya sandwich,spin valve dan mulitilayer. Sebelumnya penelitian tentang lapisan tipis GMR berstrukturmultilayer dengan metode DC sputtering telah dilakukan oleh Sugita tahun 1998 denganbahan ferromagnetic NiCoFe dan non magnetik Cu dan menghasilkan rasio MR sebesar5.1%. Pada penelitian ini masih terlihat permasalahan yang terjadi yaitu rasio MR yangdihasilkan masih kecil. Permasalahan yang dijumpai dalam lapisan tipis GMR adalahmengenai sulitnya memperoleh karakteristik material GMR yang baik yakni; memilikirasio MR yang tinggi. Hal ini menjadi tantangan bagi para peneliti untuk terusmengembangkan penelitian GMR baik dari segi metode penumbuhan maupun dari segikomposisi dan material yang digunakan serta sruktur yang dibuat.Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui bagaimana pengaruh jumlah lapisantipis GMR yang berstruktur multilayer yang ditumbuhkan dengan metode DC Sputteringterhadap rasio MR dengan bahan feromagnetik NiCoFe dan non magnetik Cu di atasSubstrat Si. Adapun penelitian ini adalah penelitian eksperimental. Struktur multilayerterdiri dari 2,3 dan 4 kali pengulangan yang ditumbuhkan dengan metode DC sputteringdengan waktu penumbuhan masing-masing 5 menit.Setelah dilakukan penelitian terhadap nilai MR dari lapisan tipis GMR berstrukturmultilayer dengan 2,3 dan 4 kali pengulangan diperoleh hasil rasio MR berturut-turut11.65%, 35.60% dan 45.27%. Dari hasil penelitian ini didapat hubungan antara jumlahlapisan tipis GMR berstruktur multilayer terhadap rasio MRnya yaitu semakin banyakjumlah lapisan tipis GMRnya maka semakin besar rasio MR yang diperoleh.Berdasarkan pengolahan data diperoleh hasil yaitu terdapat pengaruh jumlah lapisan tipisGMR berstruktur multilayer yang ditumbuhkan dengan DC Sputtering terhadap rasio MRdengan tingkat kepercayaan 94.3%.